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光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

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顯微共聚焦拉曼系統(tǒng)的性能特點及主要應用途徑

掩膜版缺陷修復措施有以下幾種

紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)

●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍 ●具有紫外線自吸收校正的高精度測量 ●配備溫度控制單元，可從-110°C進行溫度控制 ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ●電源、溫控單元、測量儀軟件批量控制

更新時間：2025-05-07

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瀏覽量：403
相位差測量裝置 RETS-100nx New

采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：355
液晶層間隙量測設備 RETS series

采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：349
橢偏儀 FE-5000/5000S

●可在紫外和可見（250至800nm）波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù) ●可分析納米級多層薄膜的厚度 ●可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜 ●通過可變反射角測量，可詳細分析薄膜 ●通過創(chuàng)建光學常數(shù)數(shù)據(jù)庫和追加菜單注冊功能，增強操作便利性 ●通過層膜貼合分析的光學常數(shù)測量可控制膜厚度/膜質量

更新時間：2025-05-07

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瀏覽量：479
總光譜光通量測量系統(tǒng) HM/FM series

●可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 ●測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標準 ●采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量 ●測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從φ250毫米到φ3000毫米都能對應 ●支持LIV測量，脈沖點測量，樣品溫度測量 ●兼容脈沖寬度調制（PWM）調光

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：323
彩色濾光片、光刻膠測量裝置 LCF SERIES

以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置

更新時間：2025-05-07

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瀏覽量：474

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