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產品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚總光譜光通量測量系統(tǒng) HM/FM series
產品簡介
●可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量●測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標準●采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量●測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從φ250毫米到φ3000毫米都能對應●支持LIV測量，脈沖點測量，樣品溫度測量●兼容脈沖寬度調制（PWM）調光
產品分類
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對應總光通量測量的所有要求
全光束測量系統(tǒng)總括
●總光通量[JISC7801：2009/JISC8152：2007] ●光譜總輻射通量（光譜）
●顏色匹配標準差（SDCM）
●色度坐標（U，V）[CIE1960UCS] ●色度坐標（X，Y）[JISZ8724：1997] ●色度坐標（U’V’）[CIE1976UCS] ●相關色溫與Duv[JISZ8725：1999] ●主波長（Dominant）和激發(fā)純度（Purity）[JISZ8701：1999] ●顯色評價數（RA，R1?R15）[JISZ8726：1990]
●可以改變光源的照明方向，因此可在實際使用條件下進行測量
●排除積分空間以外的發(fā)光部件，消除吸收誤差
●積分空間的一半亮度（靈敏度）為兩倍
●適用于表面發(fā)射光源的總光通量測量
●樣品溫度調節(jié)方便，因為除了發(fā)光表面外，它可以放置在整體半球外面
（也對應高功率光源）
●可消除樣品光源本身陰影的影響，是測量大樣品的理想選擇
（可對應積分球直徑的1/3）
●與整體半球形規(guī)格一樣，可以測量2400mm的直管光源
●使用帶輔助燈泡的積分球，可補正自我吸收
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服務熱線： 021-33897997
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