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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚
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該檢測器 是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項(xiàng)成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
更新時(shí)間：2025-05-07
產(chǎn)品型號：
瀏覽量：465
●非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測 ●采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性 ●可進(jìn)行高速的即時(shí)研磨檢測 ●可穿越保護(hù)膜、觀景窗等中間層的檢測 ●可對應(yīng)長工作距離、且容易安裝于產(chǎn)線或者設(shè)備中 ●體積小、省空間、設(shè)備安裝簡易 ●可對應(yīng)線上檢測的外部信號觸發(fā)需求 ●采用最適shi合膜厚檢測的獨(dú)自解析演算法。(已取得專zhuan利) ●可自動(dòng)進(jìn)行膜厚分布制圖(選配項(xiàng)目)
更新時(shí)間：2025-05-07產(chǎn)品型號：瀏覽量：506
MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設(shè)備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進(jìn)行測量。 此外，還可以高速掃描任何表面并確定測量位置，而無需對焦。
更新時(shí)間：2025-05-07產(chǎn)品型號：瀏覽量：365
本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
更新時(shí)間：2025-05-07產(chǎn)品型號：瀏覽量：396
● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定) ● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)池連續(xù)測量粒徑和zeta電位 ● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量 ● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進(jìn)行解析
更新時(shí)間：2025-05-07產(chǎn)品型號：瀏覽量：362
ELSZ series的最zu高級機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進(jìn)行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測量。
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