顯微熒光成像系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
S-MPL系列顯微熒光成像系統(tǒng)
光致發(fā)光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可見(jiàn)或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測(cè)量應(yīng)用中通常是用激光（波長(zhǎng)如325nm、532nm、785nm等）激發(fā)材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）產(chǎn)生熒光，通過(guò)對(duì)其熒光光譜（即PL譜）的測(cè)量，分析該材料的光學(xué)特性，如禁帶寬度等。

產(chǎn)品型號(hào)：S-MPL系列

更新時(shí)間：2025-05-06

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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S-MPL系列顯微熒光成像系統(tǒng)簡(jiǎn)介

光致發(fā)光(photoluminescence)即PL，是用紫外、可見(jiàn)或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測(cè)量應(yīng)用中通常是用激光（波長(zhǎng)如325nm、532nm、785nm等）激發(fā)材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）產(chǎn)生熒光，通過(guò)對(duì)其熒光光譜（即PL譜）的測(cè)量，分析該材料的光學(xué)特性，如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)及分子生物學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。
傳統(tǒng)的熒光光譜儀一般采用透鏡收光的方式，針對(duì)發(fā)光非常微弱的納米材料，即便用激光器激發(fā)，也很難獲得較好的信號(hào)。結(jié)合多年的實(shí)際測(cè)樣經(jīng)驗(yàn)，我司推出了顯微PL系統(tǒng)，采用顯微物鏡收光，較傳統(tǒng)的熒光光譜儀其收光效率提升了至少3個(gè)數(shù)量級(jí)，因此特別適用于傳統(tǒng) 熒光系統(tǒng)難以檢測(cè)到的微弱信號(hào)，另外其輔助的白光成像功能，還可以實(shí)現(xiàn)微區(qū)（微米級(jí)）定位測(cè)量。

應(yīng)用領(lǐng)域：